Skip to content

Synchroskopy stroboskopowe szerokopasmowe - książka wyd. 1972

54,44 zł 63,70 zł
tezeusz.pl Zobacz w sklepie

Opis

Spis treści:   1.   Podstawy  oscylografii  stroboskopowej — Jerzy Baranowski 1.1.  Rozwój   oscylografii   stroboskopowej     1.2.  Zasada działania synchroskopu stroboskopowego 1.3.  Podstawowe parametry synchroskopu stroboskopowego   . 1.3.1.   Własny czas narastania i równoważna szerokość pasma częstotliwości oraz przebieg charakterystyk częstotliwościowych   1.3.2.   Czułość  maksymalna   i   szumy   własne. 1.3.3.   Zakres dynamiki i liniowości odchylenia pionowego  1.3.4.   Szybkość maksymalna podstawy czasu i niestałość czoła obrazowanego   impulsu     2.   Przegląd współczesnych systemów synchroskopów stroboskopowych — Jerzy Baranowski 2.1.  Wady  systemów bezpośrednich  2.2.  Układy   śledzące   2.2.1.   Ogólne  zasady  pracy  układów  śledzących. 2.2.2.   Układ śledzący z bramką asymetryczną i  generatorem  ładunku odniesienia 2.2.3.   Układ śledzący z bramką symetryczną 2.2.4.   Szumy w układach  śledzących 2.2.5.   Zasadnicze   parametry   techniczne   podstawowych   układów   wewnętrznych  urządzenia  śledzącego     . 2.2.5.1.  Układ pamięciowy 2.2.5.2.  Układ  próbkujący  2.2.5.3.  Wzmacniacz całkujący i bramka stabilności      2.2.5.4.  Regulacja   czułości       2.3.  Oscylografia   w   czasie   rzeczywistym 2.4.  Układ  próbkowania   przypadkowego       3.   Układy  wyzwalania i  odkształtowania  podstawy  czasu — Wojciech Nowakowski, Michał Ramotowski.       3.1. Układy wyzwalania i synchronizacji przebiegu podstawy czasu 3.1.1.   Układy   wyzwalania   podstawy   czasu     3.1.1.1.  Zasada  działania i  schemat  blokowy  układu  wyzwalania z   blokadą 3.1.1.2.  Podstawowe właściwości  i  parametry  układów wyzwalania z blokadą .      3.1.1.3. Przykłady   praktycznych   rozwiązań   układów   wyzwalania z   blokadą 3.1.2.   Układy synchronizacji podstawy  czasu 3.1.2.1.  Zasada działania układu synchronizacji z diodą tunelową 3.1.2.2.  Podstawowe  właściwości   i  parametry  układu  synchronizacji   z   diodą   tunelową 3.1.2.3.  Przykłady praktycznych rozwiązań układów synchronizacji 3.1.3.   Układy wyzwalania z blokadą, z możliwością pracy w układzie synchronizacji. 3.1.4.   Tendencje rozwojowe układów wyzwalania i synchronizacji . 3.2. Układy podstawy  czasu. 3.2.1.   Uwagi   ogólne. 3.2.2.   Podstawowe parametry układów podstawy  czasu  3.2.3.   Układy generatorów szybkiej  podstawy czasu 3.2.4.   Układy komparatorów 3.2.5.   Układy  generatorów  wolnej   podstawy   czasu   4.   Generatory  impulsów próbkujących —   Jerzy Baranowski,   Andrzej Rusek 4.1.  Podstawowe cechy i parametry . 4.2.  Generatory impulsów  próbkujących z diodami ładunkowymi    . 4.2.1.   Zasada kształtowania impulsów za pomocą diod ładunkowych 4.2.2.   Przykłady   rozwiązań   układowych. 5.   Układy   próbkujące   — Stefan Misiaszek, Michał Rzewuski  5.1.  Parametry i ogólna zasada działania układu próbkującego  5.2.  Układ próbkujący  asymetryczny    5.2.1.   Właściwości   częstotliwościowe   układu   próbkującego   5.2.2.   Wpływ pojemności diody na pracę układu próbkującego 5.3.  Układy  próbkujące  symetryczne          5.4.  Układy mieszaczy  asymetrycznych  . 5.5.  Układy  mieszaczy  symetrycznych.      5.6.  Układ próbkujący  o  czasie  narastania  niezależnym  od  szerokości  impulsu próbkującego. 5.7.  Układy  wejściowe  synchroskopów  z  wyzwalaniem wewnętrznym  . 5.7.1.   Układ blokowy  5.7.2.   Układ   rozgałęziający. 5.7.3.   Linia   opóźniająca   5.7.4.   Układ  korekcyjny 6.   Układy wzmacniania i zapamiętywania próbek   — Andrzej Rusek . 6.1. Funkcje spełniane przez układy wzmacniania i zapamiętywania próbek w różnych urządzeniach 6.1.1.   Wstęp.      6.1.2.   Parametry układów wzmacniania i zapamiętywania próbek  . 6.1.3.   Układy wzmacniania i zapamiętywania próbek w systemie bezpośrednim    6.1.4.   Układy wzmacniania i  zapamiętywania  próbek  w  układzie  śledzącym z bramką asymetryczną 6.1.5.   Układy wzmacniania i  zapamiętywania próbek  w  układzie  śledzącym   symetrycznym 6.2. Praktyczna realizacja układów wzmocnienia i zapamiętywania  próbek 6.2.1.   System  bezpośredni 6.2.2.   Układ śledzący z bramką asymetryczną 6.2.3.   Układ śledzący z bramką symetryczną